電鍍測(cè)試儀

鍍層檢測(cè)：

2.1、常見金屬鍍層有：

2.2、單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi)，

可最小測(cè)量達(dá)0.001um。

2.3、多層厚度范圍

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、鍍層層數(shù)為1-6層

2.5、鍍層精度相對(duì)差值一般<5%。

2.6、鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

單層分析精度，以Ni舉例：（相對(duì)差值）

應(yīng)用

X射線熒光分析儀是一款低成本效率、快速可靠的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。

行業(yè)

在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。為這些行業(yè)提供了：

• 以更有效的過程控制來提生產(chǎn)力

• 有助電鍍過程中的生產(chǎn)成本小化、產(chǎn)量大化

• 快速無損地分析珠寶及其他合金

• 快速分析多達(dá)4層鍍層

• 經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益

• 操作簡(jiǎn)單，只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)

的性能

快速、的分析：

大面積正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供佳靈敏度

簡(jiǎn)單的元素區(qū)分：

通過次級(jí)射線濾波器分離元素的重疊光譜

性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大：

預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法

的長(zhǎng)期穩(wěn)定性：

例行進(jìn)行簡(jiǎn)單快 速的波譜校 準(zhǔn)，可自 動(dòng)檢查儀器性能（例如靈敏性）并進(jìn)行必要的修正

電鍍測(cè)試儀