天創(chuàng)美公司將于2012年5月10日-12日參加于上海光大會(huì)展中心舉行的第六屆中國(guó)銅工業(yè)展覽會(huì)。中國(guó)銅業(yè)展是目前國(guó)內(nèi)規(guī)模大，具影響力的專業(yè)展覽會(huì)，屆時(shí)將會(huì)吸引10多個(gè)和地區(qū)的銅及銅材企業(yè)參與，約15個(gè)和地區(qū)的7000多名專業(yè)觀眾到會(huì)參觀采購(gòu)。

    本次參展，華唯將攜新研發(fā)出的620M儀器參展。620M是本公司經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間技術(shù)積淀，潛心研發(fā)出來(lái)的專門(mén)針對(duì)合金成分分析的一款X射線熒光光譜儀。相較之前產(chǎn)品，它在測(cè)試精度、速度以及操作方法上都具有很大的提升。620M能測(cè)試輕元素Al、Si、P、S；測(cè)試時(shí)間快，測(cè)試一個(gè)樣品的時(shí)間不超過(guò)400S；測(cè)試準(zhǔn)確，在無(wú)含量干擾元素存在的情況下，大相對(duì)誤差不超過(guò)1.0%，含量小于1%的成分，相對(duì)誤差不超過(guò)5%。此外，該產(chǎn)品還帶批量樣品測(cè)試功能，可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守連續(xù)測(cè)試。借著此次行業(yè)展會(huì)，華唯將順勢(shì)推出該款精密合金分析儀器。

   時(shí)間：2012年5月10日-12日

   地點(diǎn)：上海光大會(huì)展中心